Ключевые слова: patents, rotating machines, geometry effects, electromagnetic launch, design
Ключевые слова: MgB2, wires, coils, quench properties, design parameters, modeling, numerical analysis, thermal stability, minimum quench energy
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, multilayered structures, MOD process, substrate LaAlO3, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: MgB2, films thick, critical caracteristics, critical current density, thickness dependence, experimental results
Ключевые слова: patents, MgB2/Fe, fabrication, wires, Jc/B curves, critical caracteristics
Fang H., Salama K., Zeng J., Hanna M., Alessandrini M., Liang G.(phy_gnl@shsu.edu), Yen F., Lv B., Hoyt C.
Ключевые слова: MgB2/Ti, doping effect, crack formation, Jc/B curves, wires monofilamentary, fabrication, microstructure, critical caracteristics
Grasso G., Modica M., Musenich R., Fang H., Salama K., Alessandrini M., Marabotto R., Penco R., Nardelli D., Tassisto M., Liang G., Chang Diaz F.R.
Ключевые слова: MgB2/Cu-Ni, tapes multifilamentary, coils solenoidal, fabrication, quench properties, power equipment
Ключевые слова: HTS, YBCO, doping effect, TFA-MOD process, substrate single crystal, substrate LaAlO3, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Ключевые слова: substrate Ni-W, fabrication, texture, powder metallurgy, coated conductors, HTS
Ключевые слова: MgB2/Ti, PIT process, critical current density, interfaces, fabrication, ac performance, critical caracteristics, weight
Ключевые слова: HTS, coated conductors, chemical solution deposition, buffer layers, precursors, substrates, YBCO, Jc/B curves, review, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, nanodoping, precursors, trapped field distribution, Jc/B curves, microstructure, fabrication, critical caracteristics, magnetic properties
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, disks, trapped field distribution, microstructure, fabrication, magnetic properties
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni, texture, buffer layers, MOCVD process, fabrication, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.